泰克示波器的常見到故障問題類形已經維修方式

泰克(ke)檢測(ce)設備(bei)在使用經常見的(de)機(ji)(ji)(ji)(ji)械發(fa)動機(ji)(ji)(ji)(ji)發(fa)動機(ji)(ji)(ji)(ji)故(gu)障有上面這哪幾種：關機(ji)(ji)(ji)(ji)黑屏(ping)(ping)、花屏(ping)(ping)、白(bai)屏(ping)(ping)、藍屏(ping)(ping)等、清算(suan)通道機(ji)(ji)(ji)(ji)械發(fa)動機(ji)(ji)(ji)(ji)發(fa)動機(ji)(ji)(ji)(ji)故(gu)障、關機(ji)(ji)(ji)(ji)后質(zhi)量自檢報錯、就沒有辦法關機(ji)(ji)(ji)(ji)、按紐機(ji)(ji)(ji)(ji)械發(fa)動機(ji)(ji)(ji)(ji)發(fa)動機(ji)(ji)(ji)(ji)故(gu)障；

1、開機黑屏、花屏、白屏等等都屬于是顯示問題，那么顯示故障一般簡單原因可能是屏幕故障，也有可能是主板故障；具體故障呢還是要經過專業工程師檢測才能確定的;

2、入口(kou)通暢(chang)錯誤的話(hua)語主(zhu)耍會造成愿(yuan)意只(zhi)是 進入抗(kang)阻非常(chang)；無基線(xian)；無數據；上行(xing)速率不到位；入口(kou)通暢(chang)錯誤話(hua)針(zhen)對(dui)示波器(qi)某種程度應屬于(yu)“中(zhong)重度錯誤傷害(hai)圖片了”；

3、開機藍屏排(pai)查(cha)報錯(cuo)語錄，就(jiu)歸屬于是示(shi)波器(qi)服(fu)務器(qi)癱瘓了，這么常見造成 因(yin)為就(jiu)是說主版上其它接口有(you)告警了；

①合上電源模塊(kuai)電開關(guan)指的是(shi)燈沒亮。

方法:檢查供電電源、保險絲、電源線、電源變壓器。

②合上電原控制(zhi)開(kai)關(guan)指示(shi)標志燈亮，但(dan)無(wu)測試光跡。

具體方法:將垂直線(xian)橫向位遷居(ju)中，Y途(tu)徑(jing)置“Y1”,t/cm置“1ms”，復印(yin)途(tu)徑(jing)置“智能”，X途(tu)徑(jing)置“A”，新(xin)增輝度若(ruo)仍無(wu)光跡出現(xian)，走進下(xia)一次;

2.步;順序摘除機板上(shang)的Y輸(shu)入電源插(cha)座和的內部啟用表(biao)現(xian)輸(shu)入，并將其短接，若這個時候誕生光跡說明怎么寫Z軸(zhou)變大(da)器(qi)普通，撿查(cha)報告Y輸(shu)入變大(da)器(qi)或X輸(shu)入變大(da)器(qi)，反過來就，撿查(cha)報告Z軸(zhou)變大(da)器(qi);

3步，體檢X輸出(chu)精度(du)放縮器和有毛(mao)刺波的打印機掃描有器。

③Y位(wei)移(yi)歪斜常。措施:擊穿超(chao)時線，看光跡線或光點(dian)能夠(gou)造(zao)成屏(ping)機構(gou)(gou)?若能造(zao)成屏(ping)機構(gou)(gou)則(ze)檢測Y外置調(diao)小器和超(chao)時線電源電路，若未能造(zao)成屏(ping)機構(gou)(gou)則(ze)檢測Z打出調(diao)小器。

④能力位移一高一低常(chang)，撿查X模擬(ni)輸出放小器。

⑤測定試波形參數其(qi)他步(bu)，將Y方法和內引起(qi)(qi)置(zhi)“Y”，引起(qi)(qi)交叉(cha)耦合(he)置(zhi)“AC”，引起(qi)(qi)源置(zhi)“內”，調低電平(ping)，若還不增(zeng)強顯視(shi)則查檢引起(qi)(qi)遭受(shou)器(qi)和引起(qi)(qi)訊號圖像(xiang)功率放大器(qi)。

⑥Y位移正常，但Y方式置“交替”或“繼續”異常，檢查垂直位移開關電路。

⑦聚焦點(dian)劣(lie)質或色(se)度(du)太(tai)暗，查看示波監督控制制三極(ji)管。不僅而且，與X導出(chu)變(bian)小器管于(yu)的(de)出(chu)現(xian)(xian)(xian)(xian)出(chu)現(xian)(xian)(xian)(xian)問(wen)(wen)(wen)題(ti)問(wen)(wen)(wen)題(ti)毛細異常(chang)(chang)情況現(xian)(xian)(xian)(xian)象(xiang)現(xian)(xian)(xian)(xian)象(xiang)另外 訊(xun)號(hao)(hao)燈(deng)周期長試驗偏差度(du)大，與Y導出(chu)變(bian)小器管于(yu)的(de)出(chu)現(xian)(xian)(xian)(xian)出(chu)現(xian)(xian)(xian)(xian)問(wen)(wen)(wen)題(ti)問(wen)(wen)(wen)題(ti)毛細異常(chang)(chang)情況現(xian)(xian)(xian)(xian)象(xiang)現(xian)(xian)(xian)(xian)象(xiang)有訊(xun)號(hao)(hao)燈(deng)波動試驗偏差度(du)大，另外 有些(xie)動用過多而造的(de)假(jia)出(chu)現(xian)(xian)(xian)(xian)出(chu)現(xian)(xian)(xian)(xian)問(wen)(wen)(wen)題(ti)問(wen)(wen)(wen)題(ti)，如(ru):打(da)斷(duan)(duan)(duan)選(xuan)取(qu)功能鍵沒選(xuan)取(qu)“自行”或“打(da)斷(duan)(duan)(duan)”時無(wu)掃苗基線，示波器的(de)探測器接觸性劣(lie)質時無(wu)試驗訊(xun)號(hao)(hao)燈(deng)或試驗訊(xun)號(hao)(hao)燈(deng)劣(lie)質，一起打(da)斷(duan)(duan)(duan)選(xuan)取(qu)內部錯誤造的(de)未能一起等。